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特許調査サービス

調査サービスの特徴

調査サービスでは、無効資料調査、侵害防止調査、技術動向調査、外国特許調査(米国/欧州/PCT/中国/韓国/インド/東南アジア/南米などの海外調査)をご提供いたします。
 電気・機械・化学分野の調査担当者は、企業の知的財産部や調査機関等にて長年調査を専門とした豊富な知識・経験を有するサーチャーで構成しております。
 国内・海外で発行された特許情報・非特許情報を収録する複数のデータベースを用いて横断した検索を行い漏れのない的確な資料を収集いたします。また、各国の法律特許事務所や調査機関のネットワーク通じて諸外国での現地調査も行なっております。

主な取扱業務

調査対象

日本及び海外の特許公報・実用新案公報、意匠公報・商標公報
日本及び海外の一般の科学技術文献(論文・雑誌等含む)、公開技報

調査種別

調査名 調査内容
無効資料調査
(公知例調査・有効性調査)
研究開発や製造販売に際して問題となる他社特許を無効化する又は自社特許の有効性を権利行使等の前に確認するための公知(証拠)資料を調査いたします。
侵害防止調査
(クリアランス調査・抵触調査)
製造販売する自社(イ号)製品が第三者の権利に抵触しないよう権利侵害の可能性がある問題特許の有無について調査いたします。
技術動向調査
(研究開発テーマ調査)
研究開発に必要な特定技術について関連する過去・最新の特許公報を調査いたします。
外国特許調査
(海外特許の収集調査)
世界中の特許発行機関から発行された特許を目的(無効資料調査、侵害防止調査、技術動向調査など)に応じて調査いたします。 (米国/欧州/PCT/中国/韓国/インド/東南アジア/南米など)
意匠調査
(国内意匠・海外意匠)
意匠調査では、製品に係る意匠(デザイン)に同一・類似する登録意匠を調査いたします。
商標調査
(国内商標・海外商標)
商標調査では同一・類似する出願・登録の先行商標(文字/図形)を調査いたします。
SDI・ウオッチング
(国内SDI・海外SDI)
最新の国内特許情報はもちろん、米国/欧州/中国/韓国/PCTなどの最新の海外特許情報も貴社に必要な情報だけを抽出して定期的にご報告いたします。

技術分野

電気・電子・半導体、通信(IT)・コンピュータ・インターネット・ソフトウェア、
機械・自動車・医療機器・光学装置、化学(有機・無機)・医薬・バイオなど

調査国

日本/米国/欧州(EP)/PCT/中国/韓国/台湾/ドイツ/フランス/イギリス/ロシア/インド/
インドネシア/タイ/オーストラリア/ブラジルなど。

検索端末

以下の各種商用データベースを組み合わせて使用します。
SRPARTNER、NRIサイバーパテントデスク、特許審査官端末(日本特許庁庁舎2階設置)、
Thomson Innovation(DWPI)、専利SEARCH、IPDL(日本特許庁)、USPTO(米国特許庁)、
ESP@CENET(欧州特許庁)、PATENTSCOPE(WIPO)、CNIPR(中国特許庁)、KIPRIS(韓国特許庁)、 DIP(タイ特許庁)、IPAIRS (インド特許庁)、STN、JDreamⅡ、国立国会図書館の検索システムなど。

調査員

特許調査の経験豊富な特許調査会社・企業知財部出身で、電気・機械・化学の各技術分野に精通する調査員(工学・農学・医学博士含む)。

調査料金

具体的な案件ごとにお見積いたしますので、お問合せください。
※発明観点数、スクリーニング件数、技術難易度、調査対象国の数、データベース使用料などを考慮して料金を算出しております。
※お客様のご予算をお聞きして調査を行なうこともできますのでご相談下さい。


納期

正式なご依頼より2~3週間以内(ご相談により1週間程度も可能)
※SDI・ウオッチングは原則1回/月のペースで発行します。

納品形態

調査報告書(無効資料などは対比表含む)、抽出公報、など

調査報告書のサンプル(準備中)

  • 無効資料調査(公知例調査・有効性調査)
  • 侵害防止調査(クリアランス調査・抵触調査)
  • 技術動向調査(研究開発テーマ調査)